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      滴胶机,智能程控匀胶机,高温箱式炉,管式炉,真空气氛炉,匀胶机,烤胶机,紫外固化机,滴胶匀胶机,匀胶烤胶机,提拉涂膜机,旋转涂膜仪

          
      *新动态

      先进的MProbe? 薄膜测试系统

      超高精度Mprobe 有机薄膜厚度测量仪基于光谱反射原理,即在一定的波长光波下,通过追踪被带有层状结构的基片反射和/或投射的光速来实现测量膜层厚度。测量薄膜厚度范围可达1nm-1000um.一般20ms可以得到测量结果。而且超高精度Mprobe薄膜测厚仪尺寸非常小巧,8"x 4"x 10".超过精度Mprobe 有机薄膜厚度测量仪非常适合实验室,产品质量检验,研发使用。

      超高精度MProbe 有机薄膜厚度测量仪特点:

      应用广泛:

      (1)太阳能光伏薄膜领域:aSi,TCO,CIGS,CdS ,CdTe

      (2)LCD,FPD领域:ITO ,Cell Gaps,Polyamides

      (3)光学薄膜领域:光学涂层,介质滤波器,加硬膜,减反射膜

      (4)半导体和电解质领域:氧化物,氮化物,OLED stack

      实时测量和数据分析,多层,薄,厚,独立和不均匀层

      丰富的材料库:已经有500多种常用的材料参数,新材料也容易添加,并能根据需要添加相应材料特性参数-Cauchy,Tauc- Lorentz,Cody-Lorentz,EMA 等。

      灵活性:链接方便,使用自如:不管是在实验室独立使用,还是在研发或者是工厂连续生产中不间断在线持续监测膜层,都能在10分钟内完成安装,与电脑或是网络的连接十分方便。

       

      测量数据完整性 除了膜层的厚度,还能测量光学参数和表面平整度。

      使用人性化,功能强大 一键式操作即可完成膜层厚度测量和分析;大的工具-仿真能力,内部自我纠正,多样品测量,动态监测和产品批量监测。

       

      产品尺寸

      8"x 4"x 10"

      测量精度

      <0.01nm or 0.01%

      稳定性

      <0.02nm or 0.03%

      光斑尺寸

      2mm to 3um

      样品大小

      可以小至1mm

      测量范围

      1nm-1000um

      波长范围

      200nm-8000nm

      如果您对这款产品感兴趣的话,请致电:18916043666

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